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DF-200A型半导体器件通用测试机
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产品: 浏览次数:50DF-200A型半导体器件通用测试机 
品牌: 艾克思科技
正向脉冲电流调节范围: 0.01A~200A,四个档位
脉冲宽度: 300us-600us 固定值
正向压降测量范围: 10mA-10A:60V;10A-200A:20V
单价: 45000.00元/台
最小起订量: 1 台
供货总量: 30 台
发货期限: 自买家付款之日起 15 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-07-07 10:36
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详细信息

F-200A型半导体器件通用测试机

一、 概述

   F-200A半导体器件通用测试机是专为测量包括二极管、MOS管、IGBT、毫欧电阻等电子器件正向压降而设计,正向电流分为0.01-0.1A、0.1~1A、1~10A、10~200A四个档位,测量范围更广。

0.01~0.1A:小电流硅堆、(高压二极管:定制60V)、0.1A内的小电流MOS管和二极管、LED、10~100Ω电阻等测试;

0.1~10A:中小功率二极管、MOS管、0.1~1Ω电阻;

10~200A:大功率二极管、MOS管、IGBT管、0~0.1Ω电阻、开关触点压降稳定性测试

二、技术参数

1.    正向脉冲电流调节范围:0.01A~200A,四个档位,每个档位步进为档位满量程的0.01%(10-200A为10mA步进)

2.    脉冲宽度:300us-600us 固定值

3.    开路输出电压:≥65V

4.    正向压降测量范围:10mA-10A:60V;10A-200A:20V

5.    正向压降测量电流电压的分辨率:

测量范围

测试电流

分辨率

测试电压

分辨率

压降

测量范围

10~100mA

0.01mA

1mV

60V

100~1000mA

0.1mA

1mV

60V

1~10A

1mA

1mV

60V

10~200A

10mA

1mV

20V

6.    供电电压:AC220V±10%,50Hz

7.    消耗功率:≤100W

8.    工作温度:25℃±10℃

9.    串口RS485通信接口

10. 配电脑软件,输出特性曲线、导出图像和excel数据点

11. 测试仪器可脱机独立运行

12. 选配栅极测量选件,可测量栅极端口电容、栅极正反向漏电、测量IG/VGE、IC(ID)/VGE;选配极性自动切换选件,可自动切换电压电流正负极性;选配耐压测试盒选件,可测试z高5kV的器件耐压。有关选件具体信息,请咨询销售经理。


三、产品简介

 1. 测试仪器的前面板包括LED显示屏,功能按键,设定旋钮,电源开关,二极管正极负极接线端子等。

     测试器件正向压降的时候,通过前面板的四线夹子,红色线夹和二极管的正极连接,黑色线夹和二极管的负极连接。触发

     开关为不带锁的复位按键,档按钮按下时,测试仪器输出一个设置的0.01~200A的电流脉冲,电流调节旋钮顺时针调节为

      增大电流,逆时针为减小电流,旋转一格,电流步进。步进值的变动范围与光标档位设定有关。

  2.测试仪器后面板的脚踏开关和正面板上的触发开关并联,二者功能一致;

      LAN口为保留的以太网测试接口,留作升级使用。

      RS-485为计算机通讯口

     外置选件接口用于连接外置使用的选件(例如高压漏电测试选件)

             220V供电口接入电源。

四 测试示例:

       1.  测量二极管在规定正向电流IF的正向压降VF

       2.测量IGBT内反向二极管/NMOSFET寄生二极管在给定的正向电流IF下的压降VFd

3.测量电阻器件在规定正向电流IF的电阻值Rf

4.测量MOSFET/IGBT在规定的偏压VGE下的栅极漏电IG

5.测量Ciss/电容容量

6.测量IGBT/MOSFET管在规定的VGEVGS)管压降

7.测量MOSFETRDSON

五 校准方法:

0.校准操作不建议用户操作。若有需求,请与厂家联系。

1.按MENU ,选至 CALPWD选项,使用旋钮与光标设置密码为123456,再按MENU,此时SET1显示VFCAL0

2.按面板set2 切换至vfcal0的参数值 设置为10左右;

3.按面板set1 光标切换回vfcal0 使用旋钮切换至vfcal1,

重复第二步,将vfcal1的值设定为约20800;

4.OUTPUT的中间红黑两个端子用线短路,切换校准点至vfcal0,修改set2的值,令result的电压值为0.0V

5.切换至vfcal1,去掉短路线,并将短路线短路的红黑端子输入2.000V的准确电压,或者精确的2V附近的电压即可,调节vfcal1的值,令result的值与实际输入的电压一致。

6.其他点参考第5项进行校准,推荐每2V进行校准。VFCAL0-VFCAL9的校准电压必须单调增大,不可忽大忽小,否则将导致校准错误。

7.若校正时发现无法校准,或校准值间偏差过大,则可能是设备故障,需要返厂送修。

电流设定校准方法:

注意,电流校准应在电压校准后进行。

电流校准方法与电压相似,需要准备100欧姆、1欧姆、0.047欧姆的精密电阻,阻值类似也可,需要保证足够的精度。

1.按MENU ,选至 CALPWD选项,使用旋钮与光标设置密码为654321,再按MENU,此时SET1显示IFST00

2.按面板set2 切换至ifst00的参数值 设置为0.01A;

3.按面板set1 光标切换回ifst00 使用旋钮切换至ifca00,

用四线测试夹子接入100欧电阻,按触发按键,调节ifca00的值(约55000),使得结果显示的电压为 ifst00的电流值乘外接电阻。

4.其余点同上,ifstxx 为要校正的点的电流设定值,ifcaxx为该点的校正参数。共40个校准点,每个档位10个校准点。

例如ifst00 – ifst09 分配给0.01A-0.1A档位,ifst10-ifst19分配给0.1A-1A档位。

5.推荐均分电流点进行校准,校准电流必须单调增大,不可忽大忽小,否则将导致校准错误。

六 电脑连机测试步骤

① 连接测试仪器后面板上的DB9和USB转RS485转接线;

② USB转RS485转接线和电脑连接;

③ 使用四线测试夹红色连接二极管阳极,黑色连接二极管阴极;

④ 打开电源开关;

⑤ 打开电脑程序;

⑥ 程序操作读取曲线;

⑦ 由于软件版本较早,暂只支持器件的电流-压降测试曲线。

七 软件操作步骤:

① 例:测量二极管正向压降曲线,电流0-10A;

② 打开电脑程序图标

③ 选择串口号,通过硬件管理,可以串口号;

④ 点击图标按钮打开串口;

⑤ 设置采样速率,0.1Hz~10Hz;低频测试器件温升小,高频测量速度快,可根据需要选择;注意,当测量电流大于10A时,脉冲频率不可高于3Hz,否则结果不可信。

⑥ 脉冲宽度任意选择

⑦ 输入起始电流0A;终止电流为1000A;扫描点数为1~1000点(由于该软件早于仪器开发,其设定电流范围为0-3000A,且测量点数不能高于起始电流差值)。

⑧ 打开测试仪电源开关,按MENU键选择至ISCALE项目,选择该项目的值为100:1,即上位机设定1000A将除以100,实际测试电流为0-10A;

八 注意事项

1、本测试仪请勿在测试仪上试图连接电池电源类器件,有可能损坏内部器件。

2、应保证本测试仪工作在规定的供电电压和温度条件下,保证测量准确度。

3、本仪器内有高压,非专业人员请勿擅自开启外壳,当心触电。仪器z大输出电压大于60V,谨防触电。

4、本仪器连接时务必按照示例图连接。GATE红线切勿与开尔文夹子线的红线碰触,否则可能烧毁仪器。

九 固件升级

本测试仪支持不拆机升级内部程序软件。操作方式为开机后按MENU键选择至 FW UPD模式,按下TRIG按键后进入固件升级模式。

也可以开机前同时按下RANGE 与 左键 再开机,本机将进入固件升级模式,使用支持xmodem协议的串口终端软件上传固件即可。有关详细信息请咨询厂家。


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